闩锁效应

shuān suǒ xiào yīng · ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛˇ ㄒㄧㄠˋ ㄧㄥ

修撰于 2026-06-30 18:23:51

拼音shuān suǒ xiào yīng
字母shuan suo xiao ying
首字母ssxy
注音ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛˇ ㄒㄧㄠˋ ㄧㄥ
注音符号ㄕㄨㄢ ㄙㄨㄛ ㄒㄧㄠ ㄧㄥ

广

闩锁效应(Latch-up)是CMOS集成电路中一个重要的问题,这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。