释
比长仪
bǐ zhǎng yí · ㄅㄧˇ ㄓㄤˇ ㄧˊ
修撰于 2026-06-30 22:15:03
音义
| 拼音 | bǐ zhǎng yí |
|---|---|
| 字母 | bi zhang yi |
| 首字母 | bzy |
| 注音 | ㄅㄧˇ ㄓㄤˇ ㄧˊ |
| 注音符号 | ㄅㄧ ㄓㄤ ㄧ |
广训
比长仪以不接触光学定位方法瞄准被测长度，主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。比长仪一般采用测量显微镜或光电显微镜作为瞄准定位部件，并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用于检定线纹尺，测量分划板上的线距和物理、天文类照相底片上的光波谱线距离，也可用于测量孔径。