释
内建自测试
nèi jiàn zì cè shì · ㄋㄟˋ ㄐㄧㄢˋ ㄗˋ ㄘㄜˋ ㄕˋ
修撰于 2026-06-30 15:58:46
音义
| 拼音 | nèi jiàn zì cè shì |
|---|---|
| 字母 | nei jian zi ce shi |
| 首字母 | njzcs |
| 注音 | ㄋㄟˋ ㄐㄧㄢˋ ㄗˋ ㄘㄜˋ ㄕˋ |
| 注音符号 | ㄋㄟ ㄐㄧㄢ ㄗ ㄘㄜ ㄕ |
广训
内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。
nèi jiàn zì cè shì · ㄋㄟˋ ㄐㄧㄢˋ ㄗˋ ㄘㄜˋ ㄕˋ
修撰于 2026-06-30 15:58:46
| 拼音 | nèi jiàn zì cè shì |
|---|---|
| 字母 | nei jian zi ce shi |
| 首字母 | njzcs |
| 注音 | ㄋㄟˋ ㄐㄧㄢˋ ㄗˋ ㄘㄜˋ ㄕˋ |
| 注音符号 | ㄋㄟ ㄐㄧㄢ ㄗ ㄘㄜ ㄕ |
内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。