释
透射电镜
tòu shè diàn jìng · ㄊㄡˋ ㄕㄜˋ ㄉㄧㄢˋ ㄐㄧㄥˋ
修撰于 2026-06-29 22:21:57
音义
| 拼音 | tòu shè diàn jìng |
|---|---|
| 字母 | tou she dian jing |
| 首字母 | tsdj |
| 注音 | ㄊㄡˋ ㄕㄜˋ ㄉㄧㄢˋ ㄐㄧㄥˋ |
| 注音符号 | ㄊㄡ ㄕㄜ ㄉㄧㄢ ㄐㄧㄥ |
广训
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。