低能电子衍射

dī néng diàn zi yǎn shè · ㄉㄧ ㄋㄥˊ ㄉㄧㄢˋ ㄗ˙ ㄧㄢˇ ㄕㄜˋ

修撰于 2026-06-30 01:46:17

拼音dī néng diàn zi yǎn shè
字母di neng dian zi yan she
首字母dndzys
注音ㄉㄧ ㄋㄥˊ ㄉㄧㄢˋ ㄗ˙ ㄧㄢˇ ㄕㄜˋ
注音符号ㄉㄧ ㄋㄥ ㄉㄧㄢ ㄗ ㄧㄢ ㄕㄜ

广

低能电子衍射(英语:Low-energy electron diffraction,LEED)是一种用以测定单晶表面结构的实验手段,使用准直的低能电子束(20–200 eV)[1]轰击样品表面,可在荧光屏上观测到被衍射的电子所形成的光斑,进而表征样品的表面结构。