热探针法

rè tàn zhēn fǎ · ㄖㄜˋ ㄊㄢˋ ㄓㄣ ㄈㄚˇ

修撰于 2026-07-01 14:48:17

拼音rè tàn zhēn fǎ
字母re tan zhen fa
首字母rtzf
注音ㄖㄜˋ ㄊㄢˋ ㄓㄣ ㄈㄚˇ
注音符号ㄖㄜ ㄊㄢ ㄓㄣ ㄈㄚ

广

热探针法可以用作硅片N型或者P型的检测。探针工作的基本原理如图1所示。两个探针与编码形成欧姆接触,如热探针比冷探针高25-100℃。电压表跨接在两个探针之间测量电势差,极性的指示可判断材料是N或者P型。